DT306-IIA光強分布測定儀

功能：

單縫、單絲、雙縫、多縫等衍射、幹涉圖形的一維光強分布測定；

小(xiǎo)孔、小(xiǎo)屏、矩孔、雙孔、光栅和正交光栅等的衍射唱門、幹涉現象演示實驗；

偏振光實驗光強變化的測定；

驗證馬呂斯定律.

技術指标：

1. 導軌長(cháng)度:1000mm .

2. 半導體激光器(qì):配置精知工密二維調整架，波長(cháng)635nm，功率日費3mv.

3. 分劃闆:小(xiǎo)孔狹縫闆謝什和光栅.

4、可調狹縫寬度:0—1 mm（連續可調）.

5、擴束鏡倍率:13X  .

6、一維光強分布測量距離(lí) :＞80 美這mm.*小(xiǎo)讀數：0.01 mm.

7、偏振光實驗測量範圍 :360°,刻線*小(xiǎo)讀數：2°.

8、數字式檢流計:光電流測量範圍：0~2×10-4A,*小(x好廠iǎo)讀數：1×10-10A.

9、供電電源:交流220V±11V，頻率50HZ（交流城煙穩壓）