XF802-P30厚度表用來測量薄膜,紙張,塑料等行雪薄片材料的厚度。該儀器(qì)可以和Testex拓片紙配合使用場機,測量表面處理後的表面粗糙度。
執行标準: NACE RP0287, ASTM 照器D 4417-C, ISO 8503-5
技術指标:
儀器(qì)型号 | XF802-P30 |
測量範圍 | 0-1000&nb呢和sp;μm |
顯 示 | 1 μm |
儀器(qì)尺寸 | 125*95*25 mm |
重 &物高nbsp; 量 | 270 g |
裝 箱 單黑刀 | SP300主機, 說(很劇shuō)明書和合格證 |